エレクトロテストジャパンに出展します(ブース:東ホールE17-46)

御客様各位

2016年11月 吉日

2017年1月18日(水)より1月20日(金)まで、東京ビッグサイト東ホールE17-46にて『第34回 エレクトロテスト ジャパン』に出展いたします。

飛躍を遂げる3次元検査装置のトータルソリューション

 

高精度な撮像メカニズムによる計測精度の向上と安定により、マウンター、印刷機とのデータフィードバック/フィードフォアードを実現。生産中のインラインキャリブレーションが可能となりました。

また、3次元計測検査機BF-3Diに第五世代のモデルが登場。高精細モデルと高速モデルによりあらゆるニーズに対応します。

SJ38_BF-3D-L1_S

◆出展予定装置:

 ・BF-3Di-L1 (高解像度7μmモデル、高速18μmモデル)

 ・BF-3Di-Z1 (XXLサイズ対応3D自動外観検査装置)

 ・BF-3Si     (クリームはんだ印刷後検査機)

 ・BF-X3   (インライン3DX線自動検査装置)

 (出展装置は一部変更させていただく場合がございます。)

以下専用ページより、アポイントの申込みが可能です。

エレクトロニクスジャパン申し込みページ

会場へのアクセスは展示会公式ホームページをご覧ください。