
TECHNOLOGY
サキの設計思想 – Upgrade to Excellence –
Upgrade to EXcellence
サキの最新SPI/AOIはアップグレードコンセプトで新しい価値を提供します

サキSPI/AOIのアップグレードコンセプトとは?
装置導入後も時代や検査ニーズの変化に応じて、最新の光学ヘッドにモジュール交換できるサキ独自の設計思想です。サキの強みである高剛性ハードウェア×アップグレード可能なモジュール構造によって、同じ装置を長期間お使いいただけます。

01
検査ニーズに合わせてカスタマイズできるモジュール構造

筐体サイズ
検査対象に応じたサイズを選択可能です。
省スペースでの運用にはMサイズ、大型基板の検査にはXLサイズが対応しています。
モニタータイプ
面積生産性を向上させるモニター内蔵型が加わりました。
02
検査ニーズに合わせて選択可能な拡張アイテム
カメラ解像度
光学ヘッドが交換可能なため、解像度8um/15umをオンサイトで切り替えることができます。微細で高密度な搭載部品を検査したい場合は8um、高速な検査を優先したい場合は15umに変更することで、検査対象と生産要求に合わせて、解像度・スピードの切り替えができます。


※検査状況により検査時間が異なる場合があります。
サイドカメラ
4方向からの斜視カメラ撮像画像を検査に使用し、死角のない検査が可能です。QFN(Quad Flat No-Lead)IC パッケージの検査能力を高め、コネクタのはんだ付けやブリッジの不良を検出することができます。

Z軸オプション
SMT工程だけでなく、プレスフィット、THT、治具運用などの様々な検査工程に対応します。
・背高部品の文字と極性検査
Z軸搭載により、基板面と背高部品上面の両方にフォーカスを合わせることができます。文字(OCR、OCV)や極性検査の検査精度が向上します。

・高さ計測範囲の拡張
高さ計測範囲は最大40mmまで拡張します。はんだ面と背高部品両方の同時高さ計測、プレスフィットピンの高精度高さ計測が可能です。
また、基板面高さの異なる治具搬送検査にも対応し、3D AOIの後工程拡張など、幅広い用途に適用可能です。

ドーム照明
はんだ接合部の色による形状の視認性を向上させます。品質要求が高い、車載製品などの基板検査に適した照明です。IPC基準のはんだ品質保証検査を実現します。

UV照明(コンフォーマルコーティング検査向け)
基板全体のコーティング剤の塗布の自動有無を検査します。同時に、基板全面の異物検査も可能です。

Upgrade to EXcellence
この先も変化し続ける検査要求に適応するため、光学ユニットのみを更新するアップグレードコンセプトで、サキは常に最新のソリューションを提供していきます。装置のTCO(トータル・コス ト・オブ・オーナーシップ)を低く抑えるだけでなく、環境問題の解決や新しい検査トレンドへの対応など、多くの付加価値を生み出します。
関連ソリューション
3D-SPI
3D はんだ印刷自動検査装置

3D-AOI
3D 自動外観検査装置
