サキコーポレーション、AOIの可能性を拡げるZ軸駆動光学ヘッドシステムを開発

株式会社サキコーポレーション（東京都江東区、代表取締役社長：小池紀洋、以下サキ）は、このたび、3次元自動外観検査装置（3D-AOI） 3Diシリーズ用のZ軸駆動光学ヘッドシステムを開発しました。サキの3D-AOIは、このZ軸駆動光学ヘッドシステムを搭載することで、検査・計測の高さ範囲を拡大し、背高部品やプレスフィット部品、治具搬送基板の高精度な自動検査を実現します。

サキの新しいZ軸駆動光学ヘッドシステムは、3D-AOIの高さ計測範囲を最大40mmまで拡大し、2Dのフォーカスも高さ40mmまで対応します。この新機能を搭載したサキの3D-AOIは、大型の電解コンデンサなど背の高い部品を識別し、基板面と部品面の両方にフォーカスして、はんだ検査と部品上面の文字認識（OCRやOCV）・極性検査を同時に行うことが可能となります。

検査・計測の高さ範囲の拡大により、プレスフィットや治具搬送などの製造工程にも、3D-AOIの活用範囲が拡がります。近年、民生・車載・FAなど幅広い分野において、はんだを使わずプリント基板にモジュールを接続するプレスフィット技術の採用が進んでいます。新たに開発したZ軸駆動光学ヘッドシステムは、エッジ検索や平面検出のアルゴリズムで、プレスフィットピンのピン曲がりや位置ずれなどの欠陥を明確に識別し、高い精度と繰り返し再現性でピンの自動検査を実現します。

サキの取締役兼CTOの秋山吉宏は次のように述べています。
「3D-AOIのさらなる付加価値として、高さ方向の画像合成技術を、Z軸駆動光学ヘッドシステムというパッケージでご提供します。サキは、時代が求めるものづくりに最新技術で対応し、業界最高水準の3D-AOI検査精度で、ものづくりの品質という価値を提供し続けてまいります。」

Z軸駆動光学ヘッドシステムの詳細仕様やオンライン・デモンストレーション、およびオプション価格につきましては、以下にお問合せください。

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